آنالیز TEM یک روش بصری است که به کمک آن می‌توان مورفولوژی خاک رس را در سطوح نانومتری مشاهده نمود. در صورت تلفیق تصاویر TEM و طیف XRD ساختار واقعی نانوکامپوزیت آشکار می‌گردد. در روش XRD کل نمونه بررسی می‌شود، اما در آنالیز TEM تنها بخش بسیار کوچکی از کل نمونه را می‌توان مطالعه نمود. این مساله اصلی‌ترین محدودیت روش TEM است. در شکل زیر تصویر TEM یک نمونه کامپوزیتی با مورفولوژی پراکنشی نشان داده شده است. خطوطی که مانند مو پراکنده شده اند، لایه‌های سیلیکات می‌باشند.